介绍缓冲技术，存储技术、存储介质、文件传输规格、存储芯片等详细资讯
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产品新知
- Molex提供最小的地面模塑互连器件天线 (2012-05-23)
- 宜扬科技提供新一代序列式闪存EN25QF256 (2012-05-22)
- 宇瞻科技为嵌入式系统打造DDR3-1600内存模块 (2012-05-22)
- 宇瞻推出mPDM模块式固态硬盘，采用标准Mini PCIe接口 (2012-04-18)
- 英特尔固态硬盘910助力数据中心存储分层和高速缓存 (2012-04-13)
- LSI全新Nytro闪存方案将重新定义数据中心性能 (2012-04-11)
- Ramtron发布新型低功耗F-RAM存储器FM25e64 (2012-04-09)
- Spansion高密度512Mb FL-S串行闪存批量生产 (2012-04-03)
- Ramtron携手Revere Security研发F-RAM (2012-03-14)
- 拓目科技推出基于SATA SSD的入门级固态存储产品 (2012-03-06)
- 富士通新推基于0.18 μm技术的FRAM (2012-02-09)
- Ramtron推出F-RAM系列中首款超低功耗存储器 (2012-02-08)
- Ramtron新推2 Mb串口非易失性F-RAM存储器 (2012-02-01)
- 东芝推出BENAND产品,在NAND闪存中嵌入ECC (2012-01-09)
- Allegro提供更高瞬态保护的双线霍尔效应锁存器 (2012-01-06)
业界新闻
- 新岸线NS115芯片组采用Cadence存储器接口IP解决方案 (2012-05-25)
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智能手机BOM成本DRAM份额锐减 LPDDR3可望逆转 (2012-05-23)
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拆解20纳米MLC NAND闪存 揭密创新平面浮栅结构 (2012-05-21)
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IMEC称准备量产20nm以下工艺RRAM 可取代当前存储器 (2012-05-18)
- 源科军民两用存储产品闪耀中国国际国防电子展 (2012-05-15)
- 2012智能机/平板市场对新兴闪存的需求 (2012-05-15)
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美光吃下尔必达几成定局 三大DRAM阵营现雏形 (2012-05-14)
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硬盘面密度5年内接近极限 新技术可大幅提高存储密度 (2012-05-02)
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智能手机和平板继续拉动2012年芯片产业温和增长 (2012-04-28)
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白牌手机灰市兴旺驱动低成本闪存快速增长 (2012-04-27)
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拆解神秘新一代MRAM 能否取代闪存？ (2012-04-13)
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后PC时代eMMC、SSD走俏，半导体存储技术将如何变革？ (2012-04-09)
- Spansion与SK海力士合作为嵌入式市场带来SLC NAND产品 (2012-04-09)
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NAND闪存引领新一轮存储技术变局 本土企业机遇何在？ (2012-03-30)
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尔必达事件三大结局猜想 (2012-03-27)
技术文库
- 探究存储器特性以分析和预测应用处理器性能及功耗 (2012-05-14)
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基于PSoC3 UDB的异步SRAM读写控制
(2011-11-30)
- 固态存储在企业IT应用中的机遇与挑战 (2011-09-26)
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高密度FIFO器件在视频和图像领域中的应用 (2011-07-19)
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PSoC3应用于多通讯接口时的DMA设计 (2011-03-14)
- 为什么说MIPS只是一个数字而已？ (2011-01-11)
- 基于SPIFI外设的Cortex-M MCU彻底解决嵌入式闪存选型困扰 (2010-12-17)
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板载故障记录“OBFL” (2010-10-20)
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- 硫系化合物相变存储器：未来十年的主流存储器技术 (2010-07-02)
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资深电子工程师分享：嵌入式软件可靠性设计注意的问题 (2010-06-22)
- 为你的应用选择一个电源模块 (2010-06-14)
应用实例
- FBAR滤波器在下一代无线通信和无线接入产品中的应用 (2011-02-14)
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USB3.0主机控制器在媒体网关上的应用 (2010-11-05)
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一种采用中颖SH79F168的航模无刷电调方案 (2010-10-13)
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东芝NOR闪存兼容性指南 (2005-11-10)
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用于闪存MP3的SigmaTel D-MAJOR 音频解码器解决方案 (2005-11-10)
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用于硬盘MP3的SigmaTel D-MAJOR 音频解码器解决方案 (2005-11-10)
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东芝NOR闪存兼容性指南 (2005-11-02)
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为移动平台选择正确的存储器 (2005-11-01)
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DDR I/II总线的失效分析方法探索 (2004-12-28)
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LH28F032SUTD到LH28F320SKTD的转换方法 (2003-10-27)
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ST92F120/F124/150/F250测试闪存 (2003-10-03)
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