共搜索到2篇文章
按相关度排序
按时间排序
| 2007-11-12 | 微捷码、Inovys、Source III协力确保Talus ATPG技术与领先测试设备间的互用性 芯片设计软件供应商微捷码设计自动化有限公司宣布其已与Inovys公司进行合作，以确保Talus ATPG以及Talus ATPGX与Oeclot测试装置之间的互用性。 |
| 2005-05-08 | 在通用CPU芯片中采用DFT技术的前沿课题 可测试性设计技术(DFT)在当前集成电路设计中已经获得广泛使用，它能够提高信号的可控制性和可观察性。该技术在原有设计中插入额外的逻辑，这些逻辑在测试模式下运行并不对功能造成任何影响。如何让所有这些测试逻辑都能和谐工作，并在较少面积和较低性能开销条件下获得较高故障覆盖率，对DFT来说是两大主要问题。本文通过基于通用CPU芯片的设计，包括存储器内建自测试(BIST)、内部扫描设计、逻辑电路BIST、与IEEE Std.1149.1(JTAG)兼容的边界扫描设计，以其这些技术之间的相互关联，我们探讨了DFT技术的一些前沿课题，其中包括存储器BIST、扫描设计、逻辑BIST和BSD。这些概念已经在通用CPU芯片上得到实现且在实践中并获得了成功。 |
--- 共搜索到 2 篇文章，共 1 页，目前第 1 页 ---
1
近两周热门博文
专题策划
女工程师的那些事（一）
女工程师的那些事（二）
| 热门 | 经典 | 文章 | 论坛 | 博客 |
热门EE小组
PCB讨论组
|
传感技术应用小组
|
运算放大器
射频工程师俱乐部
|
ZigBee
|
交流伺服系统
职业发展讨论
|
Android智能手机
|
E群做IC的人
Altium Designer(protel)学习小组
|
IC Designers
EMC设计小组
|
Linux讨论组
|
更多
|
