共搜索到29篇文章
按相关度排序
按时间排序
| 2011-06-16 | 确保高亮度LED生产测试的精度与性价比 LED测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列，例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。LED的测试一般包含电气和光学测量，而本文着重探讨电气特征分析，只在适当的时候介绍部分光学测量技术。 |
| 2011-05-11 | 纳米器件脉冲I-V测试技巧 在对纳米器件进行电流-电压（I-V）脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流，需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这一功耗限制对当前的器件与材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑战。 |
| 2011-05-10 | 针对纳米器件的脉冲I-V测试小技巧 脉冲测试为人们和研究纳米材料、纳米电子和目前的半导体器件提供了一种重要手段。在加电压脉冲的同时测量直流电流是电荷泵的基本原理，这对于测量半导体和纳米材料的固有电荷俘获特性是很重要的。施加电流脉冲同时测量电压使研究人员能够对下一代器件进行低电阻测量或者进行I-V特征分析，同时保护这些宝贵的器件不受损坏。 |
| 2010-09-27 | Altera在可编程逻辑中成功演示25-Gbps收发器性能 吉时利仪器公司日前针对半导体测试与测量应用推出ACS基础版半导体参数测试软件的最新版本。ACS基础版V1.2进一步提高了元件或离散（封装的）半导体器件特征分析的可用性、便捷性和测试产能。 |
| 2010-09-27 | 吉时利ACS基础版V1.2为半导体测试应用提供高产能体验 吉时利仪器公司日前针对半导体测试与测量应用推出ACS基础版半导体参数测试软件的最新版本。ACS基础版V1.2进一步提高了元件或离散（封装的）半导体器件特征分析的可用性、便捷性和测试产能。 |
| 2010-03-03 | 吉时利超快C-V测量系统4225-PMU可单机实现三大基本特征分析 吉时利超快C-V测量系统4225-PMU可单机实现三大基本特征分析 |
| 2010-02-26 | 吉时利发布超快C-V测量系统4225-PMU，单机实现三大分析 吉时利仪器公司近日宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能，实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程，大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。 |
| 2010-02-25 | 吉时利推出超快C-V测量系统4225-PMU，可单机实现三大基本特征分析 吉时利推出超快C-V测量系统4225-PMU，可单机实现三大基本特征分析 |
| 2009-09-04 | 半导体C-V测量基础 电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型晶体管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管（CNT）和多种其他半导体器件。 |
| 2009-08-31 | 一种新的晶圆级1/f噪声测量方法 本文提出了一种新的可靠的晶圆级1/f噪声测量方法和架构。所提出的测试架构采用了吉时利的一系列仪器，包括4200-SCS、428和一个低通滤波器。并且采用了吉时利的自动特征分析套件（ACS）软件来控制测量仪器的操作，采集/分析测得的数据。 |
| 2009-08-07 | 半导体C-V测量基础 电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型晶体管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管（CNT）和多种其他半导体器件。 |
| 2009-04-20 | 吉时利推出用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案 吉时利推出用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案 |
| 2009-04-09 | 吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试和九槽机架结构 先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司，日前宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库，扩展了系统电容-电压（C-V）测量功能的频率范围，支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。 |
| 2009-03-04 | 吉时利新版数字源表仪器平台2600A提升I-V特征分析功能 吉时利新版数字源表仪器平台2600A提升I-V特征分析功能 |
| 2008-12-12 | 吉时利针对元件测试应用推出特征分析和曲线绘制软件ACS基础版 吉时利针对元件测试应用推出特征分析和曲线绘制软件ACS基础版 |
| 2008-12-12 | 吉时利推出针对元件测试应用的特征分析和曲线绘制软件ACS基础版 吉时利推出针对元件测试应用的特征分析和曲线绘制软件ACS基础版 |
| 2008-08-04 | 吉时利推出KTEI V7.1版针对4200-SCS半导体特征分析系统 吉时利推出KTEI V7.1版针对4200-SCS半导体特征分析系统 |
| 2008-08-01 | 吉时利针对4200-SCS半导体特征分析系统推出KTEI V7.1版 吉时利针对4200-SCS半导体特征分析系统推出KTEI V7.1版 |
| 2008-05-07 | 吉时利发布自动特征分析套件，将圆片级可靠性测试速度提高五倍 吉时利发布自动特征分析套件，将圆片级可靠性测试速度提高五倍 |
| 2008-05-06 | 吉时利推出自动特征分析套件，将圆片级可靠性测试速度提高五倍 吉时利推出自动特征分析套件，将圆片级可靠性测试速度提高五倍 |
| 2008-02-21 | 吉时利携手Stratosphere Solutions，研发65nm以下先进工艺特征分析技术 吉时利携手Stratosphere Solutions，研发65nm以下先进工艺特征分析技术 |
| 2008-02-20 | 吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术 吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术 |
| 2008-01-24 | 吉时利推出新版半导体测试与自动特征分析套件 吉时利推出新版半导体测试与自动特征分析套件 |
| 2007-12-20 | 重点关注：今日研讨会 - 如何产生您所需要的波形-脉冲发生器的实用技巧与方法（10：00-11：30） 当前产品设计中逐渐采用了大量的新器件和新材料，但是其特征分析和测试存在很多新的挑战。为了应对这些新兴的测试挑战，脉冲发生器正逐步成为一种重要的工具。 |
| 2007-04-28 | 吉时利ACS集成测试系统满足广泛测试应用需求 美国吉时利仪器公司日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。 |
| 2007-04-27 | 吉时利ACS集成测试系统助力半导体制造分析 美国吉时利仪器公司日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。 |
| 2007-04-12 | 吉时利升级4200-SCS硬件和软件，引入脉冲测试 美国吉时利仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。 |
| 2006-03-27 | 科利登助力香港科技园完善诊断及特征分析能力 科利登助力香港科技园完善诊断及特征分析能力 |
| 2006-01-09 | 融合两项专利，深圳退休高工力推电路测试新理念 一位来自深圳的退休工程师日前发表了一篇题为《伏安特征分析与特征图示仪器》的论文，文中介绍了一种据称是目前“鲜为人知”的电路诊断技术和测试仪器 |
--- 共搜索到 29 篇文章，共 1 页，目前第 1 页 ---
1
近两周热门博文
专题策划
女工程师的那些事（一）
女工程师的那些事（二）
| 热门 | 经典 | 文章 | 论坛 | 博客 |
热门EE小组
PCB讨论组
|
传感技术应用小组
|
运算放大器
射频工程师俱乐部
|
ZigBee
|
交流伺服系统
职业发展讨论
|
Android智能手机
|
E群做IC的人
Altium Designer(protel)学习小组
|
IC Designers
EMC设计小组
|
Linux讨论组
|
更多
|
