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| 2012-01-12 | 泰克手持示波器演绎测试仪器便携易用化趋势 你能想象么，具有台式产品性能级别的示波器已变得接近早前流行的PDA一般便携了，而且续航时间可以媲美目前的超薄平板电脑！这不得不说是需要在现场和实验室两种环境中调试、安装和维修复杂电子系统的工程师和技术人员的福音。 |
| 2011-12-29 | 泰克为逻辑协议分析仪新增软件功能以支持PCIe 3.0规范 泰克公司日前宣布，TLA7SA08和TLA7SA16逻辑协议分析仪模块新增了软件功能，支持下一代PCIe规范，即PCI Express 3.0规范。新的功能包括创新的鸟瞰图，帮助工程师洞察和分析复杂的流控制问题，并且只需一键式校准和自动配置，从而使PCIe系统调试和分析变得更迅速，更容易。 |
| 2011-12-26 | 泰克扩展SFF 8431 SFP+一致性测试和调试解决方案 泰克扩展SFF 8431 SFP+一致性测试和调试解决方案 |
| 2011-12-01 | 泰克新系列手持示波器THS3000提供更高测试精度 泰克公司日前宣布，推出THS3000系列手持示波器，为需要在现场和实验室环境中调试、安装和维修复杂电子系统的工程师和技术人员，提供了全新水平的测量准确性和精确度。 |
| 2011-11-21 | 工程师故事：收拾前人留下的烂摊子 “我很不喜欢这种感觉！”当老板让你去破解、调试或改善“别人的设计”，收拾前人留下来的烂摊子，你是否也有这种感觉？ |
| 2011-11-10 | MDO混合域示波器应对物联网设计挑战 MDO4000混合信号示波器独有的时间相关的跨越分析功能，为以RFID为代表的物联网设备的研制和调试提供了有力的工具。使用MDO4000不但能够轻松测量信号的模拟波形、频谱状况和各种频域参数，更可以通过AvsT、FvsT和ΦvsT这些调制域轨迹，简便地验证产品是否符合国际和行业标准的规定。 |
| 2011-11-03 | 太阳能电池板效率计 在现场测试设备或产品时，资源、材料限制、调试和时间压力都具有挑战性。不过，正是失败才是现场测试工作的成功之母，而且在现场测试中积累的经验也有助于设计师对系统的全面了解。我们要测试的是，由太阳能供电的12V铅酸汽车电池充电电路原型系统，我们要用这个汽车电池给LED灯、音频系统、用于露营淋浴器和喷雾系统的水泵等供电，要证明该充电电路不会损坏并能正常工作。 |
| 2011-10-11 | 针对Intel架构的新版片上调试工具问市 风河日前发布针对Intel硬件架构优化的新版片上调试工具Wind River Workbench On-Chip Debugging。这套JTAG产品所提供的调试解决方案可协助多个产业广泛应用的嵌入式设备，以更高的效率、更经济的成本进行以Intel处理器架构为基础的嵌入式平台开发。 |
| 2011-10-02 | 使用OS和应用软件调试硬件的十大理由 使用OS和应用软件调试硬件的十大理由 |
| 2011-09-06 | 泰克推出首款针对SFP+标准的自动测试和调试解决方案 泰克推出首款针对SFP+标准的自动测试和调试解决方案 |
| 2011-09-05 | 飞思卡尔提供类型丰富的MCU设计工具 飞思卡尔提供类型丰富的开发工具，可协助设计师晚完成所有开发阶段的工作。比如演示板，具有基本的I/O功能和易于扩展的I/O接口，为项目应用代码的编程和调试提供了一个成本低、效益高的平台。 |
| 2011-06-22 | 力科推出MIPI M-PHY验证、调试和一致性测试套件 力科推出MIPI M-PHY验证、调试和一致性测试套件 |
| 2011-05-23 | 高层对话：灿芯与ARM战略合作具有里程碑的意义 灿芯半导体近日宣布与ARM签署了一份长期协议，将被授权使用ARM的IP工具包，其中包括ARM Cortex、ARM9/11和Mali系列处理器，以及CoreSight调试追踪技术和与AMBA兼容的系统设计IP。就本次合作协议，《电子工程专辑》记者专访了灿芯半导体CEO职春星和ARM中国区总经理吴雄昂先生。 |
| 2011-05-09 | ARM发布新一代调试和追踪系统解决方案CoreSight SoC-400 ARM发布新一代调试和追踪系统解决方案CoreSight SoC-400 |
| 2011-05-04 | Microchip发布MPLAB X IDE，可实现跨平台支持 日前，Microchip宣布推出其新一代开源集成开发环境MPLAB X IDE，可以实现对Linux、Mac OS和Windows操作系统的跨平台支持。全新IDE增加了许多高性能特点，包括能够利用同时调试来管理多个项目和工具、高级编辑器、可视化调用关系图和代码完成。 |
| 2011-04-26 | 力科发布新的Thunderbolt测试方案 力科日前发布针对新的Thunderbolt串行数据标准的电气物理层端到端完整测试解决方案。 力科的串行数据分析仪SDA 8Zi-A，SDA II和Eye Doctor II分析软件包，SPARQ信号完整性网络分析仪和PeRT3带有协议功能的接收机误码测试仪已在各自测试领域建立起领导地位，为Thunderbolt的调试分析和验证提供了唯一的，强大的工具。 |
| 2011-04-18 | 泰克TLA6000系列DDR2选件问世 泰克公司日前宣布，推出完整的DDR2协议调试和验证解决方案，基于屡获奖项的TLA6000系列逻辑分析仪。TLA6000系列新选件包含了嵌入式工程师，即使并非DDR2专家，用来验证和调试设计中存储子系统性能所需的各项工具。 |
| 2011-03-18 | 灿芯半导体与ARM签署长期协议，获得ARM IP授权 ASIC设计公司及一站式服务供应商，灿芯半导体(上海)有限公司(以下简称“灿芯半导体”)近日宣布，与ARM签署了一份长期协议，将被授权使用ARM的IP工具包，其中包括ARM Cortex, ARM9/11和Mali系列处理器，以及CoreSight调试追踪技术和与AMBA兼容的系统设计IP。 |
| 2011-03-11 | 数字示波器死区时间和波形捕获率影响测量结果 发展到今天，传统的模拟示波器已经渐渐淡出了人们的视野，数字示波器几乎已经取代模拟示波器成为硬件工程师手中电路调试的最常用的一种仪器设备了。你是否觉得示波器提供给了被测信号的所有信息呢？事实上，示波器在大部分时间都处在一个无法检测信号的无信号状态，通常把这段丢失信号的时间称为死区时间。 |
| 2011-03-09 | 一种高效新型WCDMA直放站PA方案的设计与实现 鉴于运营商对功放提出节能、宽带、快速产品化的新要求，本文设计并验证了一种采用模拟预失真芯片加Doherty的WCDMA新型解决方案，该方案具有设计调试简单、线性好、效率高的特点，有一定的推广价值。本文还给出了上述方案的具体实现和调试结果。 |
| 2011-02-15 | 适用于ATMEL AVR32系列的TRACE32 PowerTools 硬件辅助微处理器开发工具领导制造商劳特巴赫公司推出了一款新工具，可以对ATMEL AVR32微处理器系列平台提供调试支持。 |
| 2011-01-28 | 示波器死区时间和波形捕获率对测量的影响 发展到今天，传统的模拟示波器已经渐渐淡出了人们的视野，数字示波器几乎已经取代模拟示波器成为硬件工程师手中电路调试的最常用的一种仪器设备了。你是否觉得示波器提供给了被测信号的所有信息呢？事实上，示波器在大部分时间都处在一个无法检测信号的无信号状态，通常把这段丢失信号的时间称为死区时间。 |
| 2011-01-06 | 泰克为业内最完整的PCIe 3.0测试解决方案增添功能 泰克公司日前宣布，为业内最完整的PCI Express 3.0解决方案推出新选件。最新解决方案使用泰克DPO/DSA/MSO70000系列示波器，具有物理层发射机 (Tx) 验证、调试、描述和认证测试功能。 |
| 2010-12-14 | IAR Systems功耗调试技术支持Renesas RX微控制器架构 IAR Systems功耗调试技术支持Renesas RX微控制器架构 |
| 2010-12-14 | IAR Systems创新性功耗调试技术支持Renesas RX微控制器架构 IAR Systems创新性功耗调试技术支持Renesas RX微控制器架构 |
| 2010-11-05 | 高集成度国标ETC射频收发器应用设计分析 本文介绍BEKEN国标ETC射频收发器BK5822的功能、特性以及应用解决方案，与应用分立元器件设计实现的OBU方案相比，采用BK5822实现的OBU设计更为简单，研发调试更容易，量产的OBU产品性能也更加稳定。 |
| 2010-10-20 | 新泰克上海测试测量方案中心启用 泰克公司日前宣布，其扩展的新上海测试测量方案中心正式启用。丹纳赫公司副总裁Jim Lico先生、泰克公司副总裁、大中华区业务运营黎志刚先生共同参加了剪彩仪式，宣布新中心的启用。旨在更好推动“泰克中国2.0战略”的实施，新中心将为客户提供更有针对性的增值服务。 |
| 2010-10-11 | 使用多通道宽带示波器进行 MIMO 射频测试和调试 使用多通道宽带示波器进行 MIMO 射频测试和调试 |
| 2010-09-28 | 无需系统调试，Cypress打造最易使用电容式触摸感应方案 无需系统调试，Cypress打造最易使用电容式触摸感应方案 |
| 2010-09-28 | 工程师做电子产品热设计要注意的N个问题 在调试或维修电路的时候，我们常提到一个词“××烧了”，这个××有时是电阻、有时是保险丝、有时是芯片，可能很少有人会追究这个词的用法，为什么不是用“坏”而是用“烧”？其原因就是在机电产品中，热失效是最常见的一种失效模式，电流过载，局部空间内短时间内通过较大的电流，会转化成热，热聚.集不易散掉，导致局部温度快速升高，过高的温度会烧毁导电铜皮、导线和器件本身。所以电失效的很大一部分是热失效。 |
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