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2010-08-24 运用FPGA进行控制平面/数据平面视频处理
  嵌入式设计人员面临的最大挑战之一就是界定系统的性能需求。用以确定实际性能需求所需的信息要么无法获取，要么难以获得。最精确的估算有时也会因无法预料的计算负荷而失效。分析通常会指出，对于数据处理需求而言嵌入式处理系统的成本效益太低。因此，系统设计人员高度渴望拥有可扩展的能够适应性能需求潜在变化以及能够执行高性能数据处理的架构。而在FPGA内部实施的控制平面/数据平面处理架构就能够有效满足上述要求。
2008-10-08 如何提高低静态电流LDO的负载瞬变响应性能
  本文对CMOS低压差稳压器(LDO)的设计进行了分析，并重点讨论了低静态电流和负载瞬变响应改进的方法和结构。低静态电流是电池供电系统的最基本性能参数，而负载瞬变响应性能的改善则可有效避免LDO供电的微处理器出现故障、复位、闭锁或失效。本文还对一些负载瞬变响应性能改进了的低静态电流LDO进行了推荐和分析。
2007-01-26 看好台湾地区设计能力，NXP高阶集成电路分析中心将落户高雄
  恩智浦半导体(NXP Semiconductors)宣布，将于今年3月在恩智浦高雄封测厂成立其亚洲第一座、全球第二座的高阶集成电路分析中心，此中心将与恩智浦的欧洲晶圆厂协同合作，进行失效IC分析，以加速对亚洲客户的服务。同时，恩智浦看好台湾地区半导体IC设计能力，亦将于台北设立产品测试设计团队，针对亚洲客户高度需求的数字家庭与行动通讯产品进行相关开发。
2004-12-28 DDR I/II总线的失效分析方法探索
  DDR全名为Double Data Rate SDRAM ，简称为DDR。现在市场上的DDR已经发展到了DDR II，速度可以支持到667MT/s。FBD（Fully Buffered DIMM）也即将在市场上推出，速度更快。DDR总线走线数量多，速度快，操作复杂，容易出现问题，给测试和分析带来了很高的挑战。本文对DDR总线的失效情况进行了分析，总结一些实践经验，给出了测试分析的一些思路和方法。



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