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EDA/IP/IC设计  

手机ESD控制技术、纠错方法及补救措施

作者: 徐涛, 何颖 上网日期: 2002年08月11日  打印版 订阅

关键字: ESD  DOA  DOF类型  防静电设计  静电释放 

[摘要提示] 手机在整个生命周期内都处在一个充满静电的环境之中,如果抗静电释放(ESD)设计不好,则可能导致手机在使用过程中发生锁死、复位、数据丢失和不可靠等现象。本文将结合实际的设计阐述手机ESD控制的基本原则和保护设计方法,以及产品生产时的补救措施。ESD破坏大多数明显的影响是器件失效,从手指或其它导体上突然的静电释放能够破坏静电敏感器件或者微电......
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