EDA/IP/IC设计 
可制造性设计中的良率分析
[摘要提示] 可制造性设计在半导体工业纳米设计流程方法学中已变得越来越重要。在过去的设计中，设计师只有在他们设计流片后才能确定制造的良率。但由于存在其它的缺陷机制，随着工艺节点的演进和设计复杂度的增加，良率具有不断下降的趋势，因此目前在设计阶段就要考虑良率问题。经过多年的定义和分析，现代工艺节点的主要良率损失机制包括随机的、系统的和参数化机......
请登录或注册网站阅读全文>>
|
还未注册?
 现在免费注册，您即可：
|
已经注册? 登录阅览全部精彩内容
|
评论最多文章
- 编辑观点：沉迷乔布斯的人，醒醒吧！ ( 35 )
- 中国官方拟制定国家CPU架构标准 ( 19 )
- 工程师故事：一个上拉电阻引发的血 案(... ( 18 )
- 众厂商高管共议新一代触控显示技术与触... ( 18 )
- 无线充电，国际厂商走错了方向？！ ( 15 )
- 不懂C语言？你该感到危机了！ ( 13 )
- 工程师故事：汽车导航系统“引狼入室”... ( 8 )
- 新兴公司挑战博通核“芯”以太网，价格... ( 8 )
- 工程师故事：一个上拉电阻引发的血 案(... ( 8 )
- 全面挑战ARM产品线 MIPS新系列Aptiv能... ( 7 )
最新论坛热门讨论
 |
 |
 |
 |
新浪微博关注
经典电子创意设计欣赏
|
|||||||
 |
网友推荐相关文章
- 可制造性设计 -- 促进生产力的强大工具 (2008-11-19)
- Semicon小组座谈，共探可制造性设计问题 (2007-08-03)
- 45纳米可制造性设计需要新的基础架构 (2007-03-26)
- 深入解析：如何点燃可制造性设计之?? (2007-01-29)
- 深入解析：可制造性设计如何才能获得成功？ (2007-01-26)
专题策划
女工程师的那些事（一）
女工程师的那些事（二）
| 热门 | 经典 | 文章 | 论坛 | 博客 |
热门EE小组
PCB讨论组
|
传感技术应用小组
|
运算放大器
射频工程师俱乐部
|
ZigBee
|
交流伺服系统
职业发展讨论
|
Android智能手机
|
E群做IC的人
Altium Designer(protel)学习小组
|
IC Designers
EMC设计小组
|
Linux讨论组
|
更多
(您将以游客身份发表，请登录 | 注册)