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测试与测量  

利用测时仪测量集成电路器件时序

上网日期: 2007年04月25日  打印版 订阅

关键字: 测时仪  检测器  折半查找  TMU 

[摘要提示] 在如今的半导体领域,要确定集成电路器件的功能性是否满足要求,往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序,这时必须用到测时仪(TMU)。什么是测时仪?测时仪是一种半导体自动测试设备(ATE),负责测量两次事件之间间隔的时间或计算事件的个数。由于半导体产业中测试的复杂度日益增大,而且IC设计师希望保证他们所设计的IC在速度和响应上能......
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