Global Sources
电子工程专辑
 MCU DSP 智能手机          电子技术资料下载                   
电子工程专辑 > 业界新闻 > 测试与测量 > 正文
 
测试与测量  

微捷码、Inovys、Source III协力确保Talus ATPG技术与领先测试设备间的互用性

上网日期: 2007年11月12日  打印版 订阅

关键字: 可测试性设计技术  DFT  自动测试设备 

[摘要提示] 芯片设计软件供应商微捷码设计自动化有限公司宣布其已与Inovys公司进行合作,以确保Talus ATPG以及Talus ATPGX与Oeclot测试装置之间的互用性。微捷码及这些合作伙伴同时正在开发从测试装置到Talus ATPG诊断能力的有效反馈路径,这样设计员就可以进一步分析设备故障原因。基于在1450年IEEE(电气和电子工程师协会)的标准测试接口语言(STIL)以及本次与In......
请登录或注册网站阅读全文>>
 

本文链接:微捷码、Inovys、Source III协力确保Talus ATPG技术与领先测试设备间的互用性

http://www.eet-china.com/ART_8800488510_480101_NT_d9d10e38.HTM
我来评论 - 微捷码、Inovys、Source III协力确保Ta...
评论:
*  您还能输入[0]字
验证码:


 
2011电子产业征战风云
 
 

2011年12月《绿色能源特刊》

本期《绿色能源特刊》围绕发展新能源产业、新能源汽车、节能产业的出发点,透视十二五元年,绿色能源表现,同时介绍在电源节能设计中的技术创新及趋势,聚焦新材料研究进展与智能电表市场的最新动向,为实现高效节能提供技术参考。

 

 

 

上周热点文章排行榜(01.30~02.03) 论坛热贴 热门博文           



热门 经典 文章 论坛 博客
Rf    Nfc    mcu    dsp    变频器    安捷伦    rohs    pfc    mems    labview    ee    石墨烯    嵌入式    电解电容    lvds    igbt    soc    pwm    ofdm    eda    dac    智能电网    深圳单片机开发    电子工程专辑    stm32    rs485    iptv    hdd    emi    asic    以太网    无线充电    平板电脑    单片机    poe    ldo    h.264    esd    arm   
 

返回页首