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吉时利推出新版半导体测试与自动特征分析套件

上网日期: 2008年01月24日  打印版 订阅

关键字: ACS V3.2版  ACS  特征分析 

[摘要提示] 美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能,并以1fA电流测量分辨率支持吉时利最新2635和2636型系统数字源表,进一步增强ACS集成测试系统强大自动测试功能。这些新功能为用户提供最具性......
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