白皮书

技术文档

Magma_Tekton：下一代时序分析平台

    上线日期：2010-07-27

[摘要]怎么办，怎么办，要怎么办？芯片复杂性持续攀升，设计日程安排更为紧凑，而设计团队的规模不仅没有丝毫变化，甚至还缩水了。但总有一方要做出让步。时序收敛一直是设计流程中备受关注的一个阶段。时序收敛流程能多快完成可能决定着芯片...

TI 的电子书解决方案

    上线日期：2010-07-07

[摘要]电子书阅读器是专为查看和阅读数字媒体而设计的手持电子设备。主要设计注意事项包括：  • 应用处理器：OMAP3621 处理器 OMAP36x 专门针对低功耗操作进行了设计和优化。  • 无线连接：TI 的 WiLinkT...

Seed_基于TI DM6467T的8路D1实时DVR/DVS解决方案

    上线日期：2010-07-07

[摘要]合众达基于TI DM6467T推出了8路D1实时DVR/DVS解决方案，具有以下显著特点：1、单芯片实现8路DVR完整方案，低功耗，低成本；2、视频画质为D1 720x576，清晰度高；3、开放1GHz高速DSP，用户可扩展智能算法；4、全新的DSPlink开发框架，极...

Keithley_使用极速I-V测试，扩展您的器件特性分析

    上线日期：2010-03-25

[摘要]了解极速I-V源和测量技术在多种技术中的应用，包括脉冲和瞬态I-V、SOI CMOS、闪存、相变存储器、LDMOS、高κ、NBTI/PBTI。 "当您想要完整的特性分析半导体元件、材料或工艺技术时，您会需要进行精密直流I-V、交流阻抗以及超快或瞬态I-...

Keithley_如何仅用一台仪器完成对材料、器件和工艺的全方位特...

    上线日期：2010-03-25

[摘要]单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统—吉时利最新4225 PMU超快I-V测试模块、4225-RPM远程放大器/开关及4220-PGU脉冲发生器，极致发挥吉时利4200-SCS在材料、器件和进程测试分析的潜力。4225-PMU超快I-V模块进一步丰富...

Keithley_全新一代简单、可靠、完备的极速I-V测试方案集成超快...

    上线日期：2010-03-25

[摘要]超快I-V源和测量已成为复合半导体、中等功率器件、非易失存储器、MEM（微机电器件）、纳米器件、太阳能电池和CMOS器件等许多技术日益重要的功能。使用脉冲I-V信号代替直流信号分析器件可以研究或降低自发热效应（焦耳热）或使电荷俘获...

Keithley_如何选择正确的温度传感器

    上线日期：2010-03-05

[摘要]最广泛测量的物理参数是温度。无论在加工工业应用还是在实验室环境中，准确测量温度是成功的关键环节。医疗应用、实验室材料研究、电气/电子元件研究、生物学研究、地质学研究和电气产品设备热性能分析需要准确的温度测量。

Keithley_数字源表用于光电I-V测试

    上线日期：2010-03-05

[摘要]吉时利数字源表系列是专为紧密结合精密电压源和电流源以及同时测量（包括源回读）的测试应用要求开发的。在特性分析过程中，该系列仪器能容易地设置驱动激光二极管。任意一款源表都能设置为同步控制器，确保测试序列过程中同时测量。选...

Keithley_立即索取吉时利二端器件（Two-terminal Device）测试...

    上线日期：2010-03-05

[摘要]这份31页的指南介绍了运行本指南中的应用例程所需系统的全部硬件和软件配置以及包括电阻器的电压系数测试、电容器的漏电测试和二极管特性分析等二端器件测试。而且，它包含了详细应用信息和测试脚本举例。

Keithley_新的微分电导测量方法以更低成本、更快地揭示纳米器...

    上线日期：2010-03-05

[摘要]对更小尺寸、更低功耗电子器件的需求推动了纳米技术的发展。研究人员努力理解量子能级结构和纳米级器件的行为以及这些如何影响电气特性。这使观察或预测何时发生隧道效应，计算器件的能态密度，理解低温环境下的导电现象以及产生人造原...

Keithley_半导体C-V测量基础

    上线日期：2010-01-11

[摘要]C-V测量为人们提供了有关器件和材料特征的大量信息。电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型晶体管（BJT）、JFET、II...

Keithley_标准有助于规范纳米行业的秩序

    上线日期：2010-01-11

[摘要]随着各种材料、电子、生物和计算技术纷纷开始开发利用纳米技术的潜力，人们在纳米研发领域首先获得的成果是各种技术规范。很多消费者已经对纳米衍生产品非常熟悉了，例如经过改良的化妆品、织物、涂料、塑料和个人电子产品。 纳米技术...

Keithley_吉时利脉冲测试测量手册(英文)

    上线日期：2010-01-11

[摘要]立即索取吉时利脉冲测试测量手册，该手册帮助您了解可能适合您的应用需求的吉时利产品包括脉冲源。

Keithley_源—测量单元提高自动测试的效率和准确度

    上线日期：2009-12-01

[摘要]源—测量单元（SMU）不仅仅是下一代电源；而是具有高准确度测量能力的快速响应，回读电压源和电流源，这些全部紧密集成在一个机箱中。它们适合于电路和器件评估，其中直流信号输入至被测器件（DUT）并测量该直流信号的响应。许多SMU能4...

Keithley_高k栅介质中电荷俘获行为的脉冲特征分析

    上线日期：2009-12-01

[摘要]本文介绍了电荷俘获的原理以及直流特征分析技术对俘获电荷进行定量分析的局限性。接下来，本文介绍了一种超快的脉冲I-V分析技术，能够对具有快速瞬态充电效应（FTCE）的高k栅晶体管的本征（无俘获）性能进行特征分析。