DS3231老化寄存器

一、前言

  在之前测试了DS3231这款时钟芯片，但是在其中对老化寄存器对输出频率进行补偿实验中，并没有看到补偿的效果。在 B站的朋友留言，建议对芯片寄存器修改之后，应该启动温度转换。这样才能够看到老化寄存器修改后时钟频率变化的效果。下面对此进行测量一下。

二、测试结果

  这是一块之前设计的电路板。上面集成DS3231，就在这个电路板上，对DS3231进行测试。

  使用示波器测量DS3231第三中断管脚输出的方波信号，软件设置它的频率为 1024Hz，利用这个信号可以测量DS3231内部的32.768kHz的频率变化。

  为了提高测量精度，将输出方波信号的频率提高到 8192Hz，使用 FA-2 频率计测量这个信号的频率。这个频率计是我手边精度最高的频率测量设备了。可以看到现在DS3231输出的信号频率基本上变化在**千分之一赫兹*。

  首先，在老化寄存器设置数值为 0 时，测量输出的频率为 8191.9842Hz。修改老化寄存器，将其修改为7F，然后 开启温度转换。之前一直没有做这个手工温度转换。此时，测量频率变化为8191.9393Hz，比之前小了0.0449Hz。接下来，将老化寄存器的数值修改为 FF，最高位是符号位，此时，对应的输出频率为 8191.9853Hz。

  最后，将老化寄存器的数值修改为 80，输出频率上升到 8192.042Hz。由此可见，通过手工开启温度转换，的确，老化寄存器的数值可以改变DS3231的内部频率，该寄存器数值为有符号8位整数。该数值越大，内部震荡频率越小，最大可以将频率数值变化 百万分之七左右。

※ 总  结 ※

  本文测试了时钟芯片DS3231中的老化寄存器对于时钟频率的影响。需要在修改寄存器数值之后，启动内部温度转换才能够产生效果。最大可以将频率变化超过 7个ppm。最后感谢B站的朋友给出的建议，最终帮助我解开了前面遇到的困惑。

  也反应了我对于DS3231技术文档没有仔细完全阅读。