英飞凌推出ASIL-B等级并具唤醒功能的第三代3D霍尔传感器TLE493D-x3系列

• 供电范围扩展到5v并增加±50mT的量程范围，从而可覆盖更多应用场景；

• 精度更高，在灵敏度温漂和零点温漂以及各轴匹配度漂移方面性能具有提升；

• 系列中所有型号均具有睡眠唤醒功能；

• 明确符合功能安全ASIL-B等级要求，方便客户构建ASIL-B以上等级的系统；

• 增加SPI接口的型号TLE493D-P3I8，该型号工作温度可达150℃。

该系列产品的型号如下：

两种测量模式：

• 低功耗模式：芯片内部定时触发测量,可配置为4种定时采样频率16、31、125、1000Hz

• 主控模式：外部MCU对芯片测量进行触发,最高采样频率可达7kHz

两种模式均可配置为如下三种采样值的组合：

3轴磁场+温度

X轴磁场+Y轴磁场

X轴或Z轴磁场+温度

三种量程：

量程范围（mT）

灵敏度典型值(LSB14/mT)

长量程：± 16029.5

短量程：± 10059

超短量程：± 50118

睡眠与唤醒功能：

睡眠功能指的是芯片被设置为低功耗模式时，如果芯片感应的磁场低于所设置阈值，则芯片处于休眠状态，以所设置频率定时内部进行采样并不再响应来自MCU的通讯指令。

唤醒功能指的是在设定磁场阈值并使能该唤醒功能后，一旦作用于芯片的磁场超过阈值，INTN管脚会输出低电平触发脉冲，可用于唤醒SBC或者MCU。X,Y,Z任意一个轴的阈值被超过就会触发出脉冲。如果各轴的阈值保持在复位时的初始值没有进行修改，则表明该轴的睡眠唤醒功能没有使能；如果所有轴的的阈值均保持复位初始值，则芯片会一直保持在唤醒状态，持续向外发出脉冲。

检验功能

除了支持上面提到的三种采样值组合外，芯片还提供三种自检功能满足用户的诊断要求：

• 各轴霍尔偏置电压检测及供电电源检测。这一功能主要是检验施加在hall盘上的偏置电压是否在规程内，数据手册中不但规定了初始值的合规范围，同时规定了全生命周期的漂移范围。

• 修调功能及内部电源检测。这一功能主要是检验hall和ADC的零点的旋转修调功能和片内稳压电路是否仍然正常工作。同样地，数据手册同时规定了其初始值和漂移值的范围。

• SAT检测。以上两种自检功能主要侧重于对芯片内模拟电路的自检，而SAT检测主要是对片内数字电路的测试，通过设置相关控制位，检验芯片的输出值是否与参考值相同。

温度补偿算法

数据手册提供了三阶温度补偿算法，用户可以根据如下的公式通过获得的Bx,By,Bz及温度初始值计算得到补偿值，从而进一步消除温漂对精度带来的影响。