设计者常用高分辨率 ADC 以降低最低可量测单位(LSB),提高检测精度。
比如一个 16 位 ADC 在 5V 范围内,LSB ≈ 76 μV;理想情况下可以检测到微弱电信号。
问题是:
若信号上的噪声幅度 > LSB,则 LSB 分辨的不是“信号”,而是“噪声”!
如果系统本底噪声是 100 μV,那么这个 76 μV LSB 就毫无意义;此时所谓“高分辨率”变成了“伪分辨率”或“无效分辨率”。
噪声必须低于 LSB 的一半(0.5 × LSB),系统才具备该分辨率的“有效位数”。
若超过这个限制,ADC 分辨的就是“噪声波动”,而非真实信号变化。
假设用一个 16-bit ADC,量程 0–5V:LSB = 5 V / 2¹⁶ ≈ 76.3 μV
那么你必须将系统总噪声控制在 ≤ 38 μV(即 0.5 × LSB)。否则,这个 ADC 实际能体现的分辨率就低于 16 bit。
系统噪声越大,ADC 实际有效位数(ENOB)越低,近似公式如下:
即便你用的是 18-bit ADC,如果噪声高,那你得到的 ENOB 可能还不到 12 位。
注:这里的“系统总噪声”包括:传感器噪声、放大器噪声、电源噪声、ADC内部噪声。
若你无法将系统噪声控制到图中的推荐值以下,就不建议使用对应的高位数 ADC,因为你得不到真正的有效分辨率。
在设计高分辨率采集系统时,必须同步控制噪声:这包括传感器前端、放大器、电源、PCB布局和滤波。