中国上海——东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）宣布推出新款高速四通道数字隔离器“DCL54xx01”系列，该系列具有100kV/μs（最小值）的高共模瞬态抑制（CMTI）和150Mbps的高速数据速率。该系列六款产品于今日开始支持批量出货。

想要确保工厂自动化设备的安全性和可靠性，需要隔离器件来确保绝缘并防止噪声传播。东芝提供了数字隔离器解决方案，以满足工业应用在更高速度、多通道信号通信以及高CMTI方面的要求。

新产品采用东芝专有的磁耦合式绝缘传输方法，可提供100kV/μs（最小值）的高CMTI^[1]。这不仅实现了隔离信号通信中输入／输出间电气噪声的高容限，而且也有助于稳定的控制信号传输和设备运行。数字隔离器具有0.8ns（典型值）的低脉宽失真[2]和150Mbps（最大值）的高速数据速率，适用于多通道高速通信应用，如用于SPI通信的I/O接口。

东芝标准数字隔离器的结构是利用芯片内的氧化膜进行绝缘。 因此，可通过应用与MOSFET栅极氧化层随时间击穿相同的概念（TDDB：与时间相关的电介质击穿^[注1]）来预测标准数字隔离器的隔离寿命。

“用于基本隔离和加强隔离的磁耦合器和电容耦合器”^[注2]已由国际安全标准标准化，标准号为IEC 60747-17: 2020（第1版）和VDE V 0884-11，并规定了上述TDDB的测试条件。

DCL54x01系列符合VDE V 0884-11标准，应用增强隔离至最大工作隔离电压V_IORM＝1.0kVrms^[注3]。在1.2kVrms条件下进行TDDB测试，安全系数（1.2）乘以加强隔离所需的上述V_IORM。此外，在加强隔离所需的1ppm不良率外推线上，1.2kVrms条件下的寿命确定点为37.5年^[注4].

作为参考，除了测试上述VDE认证所需的最短额定寿命外，我们预测在测试电压的加速条件下，隔离寿命为70年或更长，超过了VDE规格。

特性
• 高共模瞬态抑制：CMTI＝100kV/μs（最小值）
• 高速数据速率：tbps＝150Mbps（最大值）
• 低脉宽失真：PWD＝0.8ns（典型值）(VDD1＝VDD2＝5V)
• 传输延迟时间tPHL，tPLH典型值（ns）= 10.9 ns
• 四通道：正向三通道和反向一通道