IIC Shenzhen - 2025国际集成电路展览会暨研讨会
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时间:2025年11月25-26日
地址:深圳大中华喜来登酒店
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2025年度全球电子成就奖
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深圳市昂科技术有限公司
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全自动老化测试机V9000-ABI
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全自动老化测试机V9000-ABI
成功入围,正在参加评选
2025年度全球电子成就奖 - 年度测试与测量产品
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全自动测试过程,确保可追溯性;
基于结温Tj控制的精准独⽴温控设计,提供⽬标DUT极佳的温控精度和一致性;
全自动Burn-In测试数据全监控、全记录、全分析,数据分析诊断一目了然;
测试过程全程ESD管控,确保DUT质量;
⾼精度视觉检测(3D5S、外观缺陷、二维码识别等),确保测试质量;
全栈式自主研发(嵌入式软件、FPGA、硬件、运动控制、电气、机械、热设计等),快速及时的服务体系;
引⼊AI⼤模型打造IC测试智能化;
2021年收购40年精工积累的日本Handler明星企业,产品技术精湛,超低Jam Rate。
2025年度全球电子成就奖
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